标准详细信息
硅单晶电阻率标准样片校准规范 |
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标准编号:JJF 1760-2019 | 标准状态: 现行 | 阅读打印版价格: 36.0 |
标准简介
适用范围:
本规范适用于电阻率在0.003 Ω·cm~1 000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。
标准编号:
JJF 1760-2019标准名称:
硅单晶电阻率标准样片校准规范英文名称:
Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity标准状态:
现行发布日期:
2019-09-27实施日期:
2020-03-27出版语种:
中文简体