标准详细信息
智能计算 忆阻器测试方法 第1部分：基础特性 |
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| 标准编号：GB/T 46567.1-2025 | 标准状态： 现行 | 阅读打印版价格： 38.0 |
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标准简介
适用范围：
本文件规定了忆阻器测试装置与环境条件要求，描述了忆阻器读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试方法，并规定了测试报告要求。
本文件适用于两端型双极性忆阻器的读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试。
本文件适用于两端型双极性忆阻器的读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试。
标准编号：
GB/T 46567.1-2025标准名称：
智能计算 忆阻器测试方法 第1部分：基础特性英文名称：
Intelligent computing—Test method for memristor—Part 1:Basic characteristics标准状态：
现行发布日期：
2025-10-31实施日期：
2025-10-31出版语种：
中文简体
标准类型：
CN标准属性：
GB标准编号：
46567.1起草人：
时拓、王忠新、刘津畅、何水兵、李磊、刘山佳、王明、钟鑫、施阁、吴逊、许晓欣、闫小兵、王中强、李莹、黄伟、王义楠、张丽静、王斌强、李祎、刘琦、孙文绚、徐海阳、杨彪、张乾、李清江、张九六、张宏巍、杨明、黄旭辉、武晨希、于双铭、孔维生、李鹏飞、黄唯静、王小鹏、黄涛、刘海连、罗联上、陈永祥。起草单位：
之江实验室、浙江大学、上海复旦微电子集团股份有限公司、中移(杭州)信息技术有限公司、中国计量大学、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院微电子研究所、河北大学、东北师范大学、国防科技大学、中国信息通信研究院、浪潮电子信息产业股份有限公司、华中科技大学、太原理工大学、宁波时识科技有限公司、中国科学院半导体研究所、杭州国磊半导体设备有限公司、山西太行实验室有限公司、天翼云科技有限公司、浙江大华技术股份有限公司、北京京瀚禹电子工程技术有限公司、北京万界数据科技有限责任公司、超聚变数字技术有限公司、北京云之印科技有限公司、浙江省物联网产业协会、中国通信工业协会归口单位：
全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32)提出部门：
全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32)发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
