标准详细信息
微束分析 扫描电子显微术 CD-SEM评定关键尺寸的方法 |
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| 标准编号:GB/T 46057-2025 | 标准状态: 即将实施 | 阅读打印版价格: 86.0 |
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适用范围:
本文件规定了基于模型数据库(MBL)方法通过测长扫描电子显微镜(CD-SEM)成像来测定晶圆和光掩膜的关键尺寸(CD)值所需的结构模型、相关参数、文件格式和拟合程序。
本文件适用于试样的线宽测定,如晶圆上的栅极、光掩膜、单个孤立或密集排列的线特征图案,最小达10 nm。
本文件适用于试样的线宽测定,如晶圆上的栅极、光掩膜、单个孤立或密集排列的线特征图案,最小达10 nm。
标准编号:
GB/T 46057-2025标准名称:
微束分析 扫描电子显微术 CD-SEM评定关键尺寸的方法英文名称:
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Method for evaluating critical dimensions by CD-SEM标准状态:
即将实施发布日期:
2025-08-29实施日期:
2026-03-01出版语种:
中文简体


