标准详细信息
半导体器件 恒流电迁移试验 |
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标准编号:GB/T 45722-2025 | 标准状态: 即将实施 | 阅读打印版价格: 31.0 |
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适用范围:
本文件描述了金属互连线、连接通孔链和接触孔链的常规恒流电迁移试验方法。
标准编号:
GB/T 45722-2025标准名称:
半导体器件 恒流电迁移试验英文名称:
Semiconductor devices—Constant current electromigration test标准状态:
即将实施发布日期:
2025-05-30实施日期:
2025-09-01出版语种:
中文简体