标准详细信息
微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析 |
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| 标准编号：GB/T 28634-2025 | 标准状态： 即将实施 | 阅读打印版价格： 38.0 |
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标准简介
适用范围：
本文件规定了应用电子探针显微分析仪或者安装在扫描电镜（SEM）的波谱仪（WDS），通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。
本文件还包括如下内容：
——定量分析原理；
——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围；
——仪器的一般要求；
——有关试样制备、实验条件选择、分析测量和报告等基本过程。
本文件适用于电子束垂直入射到表面平滑、均匀的块状试样的定量分析。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者宜从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器规格等信息。
本文件还包括如下内容：
——定量分析原理；
——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围；
——仪器的一般要求；
——有关试样制备、实验条件选择、分析测量和报告等基本过程。
本文件适用于电子束垂直入射到表面平滑、均匀的块状试样的定量分析。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者宜从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器规格等信息。
标准编号：
GB/T 28634-2025标准名称：
微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析英文名称：
Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy标准状态：
即将实施发布日期：
2012-07-31实施日期：
2025-11-01出版语种：
中文简体
替代以下标准：
GB/T 28634-2012被以下标准替代：
引用标准：
GB/T 27025-2019,ISO 14594,ISO 14595采用标准：
采标名称：
《微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析》采标程度：
IDT
