标准详细信息
微束分析 聚焦离子束 透射电镜试样制备方法 |
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标准编号:GB/T 45459-2025 | 标准状态: 即将实施 | 阅读打印版价格: 38.0 |
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适用范围:
本文件规定了聚焦离子束法制备透射电镜试样的仪器设备、环境与样品要求、试样制备和试验记录。
本文件适用于金属材料,半导体、矿物等无机非金属材料及高分子材料等固态材料的透射电镜试样制备。
本文件适用于各种类型的聚焦离子束场发射扫描电镜双束系统,单束系统和多束系统参照执行。
本文件适用于金属材料,半导体、矿物等无机非金属材料及高分子材料等固态材料的透射电镜试样制备。
本文件适用于各种类型的聚焦离子束场发射扫描电镜双束系统,单束系统和多束系统参照执行。
标准编号:
GB/T 45459-2025标准名称:
微束分析 聚焦离子束 透射电镜试样制备方法英文名称:
Microbeam analysis—Focused ion beam—Preparation of TEM specimens标准状态:
即将实施发布日期:
2025-03-28实施日期:
2025-10-01出版语种:
中文简体