标准详细信息
半导体集成电路 驱动器测试方法 |
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| 标准编号：GB/T 42975-2023 | 标准状态： 现行 | 阅读打印版价格： 49.0 |
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标准简介
适用范围：
本文件规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类别驱动器的测试参考使用。
标准编号：
GB/T 42975-2023标准名称：
半导体集成电路 驱动器测试方法英文名称：
Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device标准状态：
现行发布日期：
2023-09-07实施日期：
2024-01-01出版语种：
中文简体
