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标准详细信息

宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

标准编号：GB/T 43226-2023 标准状态： 现行 阅读打印版价格： 29.0
标准简介

适用范围：

本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。

基本信息

  • 标准编号：

    GB/T 43226-2023

  • 标准名称：

    宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

  • 英文名称：

    Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2023-09-07

  • 实施日期：

    2024-01-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    49.140

  • 中标分类号：

    V25

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

    GB 18871-2002

  • 采用标准：

  • 采标名称：

  • 采标程度：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    17 千字

  • 开本：

    大大16 开

  • 版次：

    1

  • 彩页数：

    0

  • 插页数：

  • 有无电子版：

    有

  • 有无彩色图片：

    无

  • 纸质版出版日期：

    2023-09-01 00:00:00.0

标准修订信息

  • 有无修改单：

    无

  • 修改单备注：

其他信息

  • 标准类型：

    CN

  • 标准属性：

    GB

  • 标准编号：

    43226

  • 起草人：

    赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁

  • 起草单位：

    北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院

  • 归口单位：

    全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)

  • 提出部门：

    全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

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