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标准详细信息

元器件位移损伤试验方法
标准编号：GB/T 42969-2023	标准状态：现行	阅读打印版价格： 29.0

标准简介

适用范围：

本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。

基本信息

标准编号：
GB/T 42969-2023
标准名称：
元器件位移损伤试验方法
英文名称：
Displacement damage test method for components
标准状态：
现行
发布日期：
2023-09-07
实施日期：
2024-01-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
31.200
中标分类号：
L56

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
GB 18871,GB/T 19022-2003,GB/T 27418-2017
采用标准：
采标名称：
采标程度：

出版信息

页数：
12 页
字数：
19 千字
开本：
大大16 开
版次：
1
彩页数：
0
插页数：
有无电子版：
有
有无彩色图片：
无
纸质版出版日期：
2023-09-01 00:00:00.0

标准修订信息

有无修改单：
无
修改单备注：

其他信息

标准类型：
CN
标准属性：
GB
标准编号：
42969
起草人：
罗磊、于庆奎、唐民、朱恒静、张洪伟、郑春、陈伟、丁李利、汪朝敏、李豫东、文林、薛玉雄
起草单位：
中国空间技术研究院、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、西北核技术研究院、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、扬州大学
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
提出部门：
中华人民共和国工业和信息化部
发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

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