标准详细信息
碳化硅单晶位错密度的测试方法 |
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标准编号:GB/T 41765-2022 | 标准状态: 即将实施 | 阅读打印版价格: 29.0 |
标准简介
适用范围:
本文件规定了碳化硅单晶位错密度的测试方法。
本文件适用于晶面偏离{0001}面、偏向〈112-0〉方向0°~8°的碳化硅单晶位错密度的测试。
本文件适用于晶面偏离{0001}面、偏向〈112-0〉方向0°~8°的碳化硅单晶位错密度的测试。
标准编号:
GB/T 41765-2022标准名称:
碳化硅单晶位错密度的测试方法英文名称:
Test method for dislocation density of monocrystalline silicon carbide标准状态:
即将实施发布日期:
2022-10-12实施日期:
2023-05-01出版语种:
中文简体